LPC11E68支持三种常见的循环冗余校验CRC多项式CRC-CCITT、CRC-16和CRC-32。使用LPC11E68提供的硬件CRC可以减少代码量，直接将数据交给硬件计算，减轻MCU负担。硬件CRC具有多种特性：位顺序反转和1的补码可编程设置，用于输入数据和CRC求和；可编程的种子数设置；每次写操作接受数据宽度：8、16或32位。

使用CRC之前，需要在SYSAHBCLKCTRL寄存器中使能CRC引擎的时钟。通过置位SYSAHBCLKCTRL的位28使能CRC时钟。

下图是CRC引擎的功能框图

从上图可以看到，硬件CRC挂载在AHB总线上。CRC的寄存器直接与AHB总线进行通信。CRC的输入数据经过多路复用器MUX，选择数据带宽；然后根据CRC_MODE寄存器的设置进行补码和位翻转操作，循环使用CRC多项式校验，将结果安装CRC_MODE寄存器的设置进行补码和位翻转操作，最后保存到CRC_SUM寄存器中。通过读取CRC_SUM寄存器就可以获得CRC校验的结果。

与CRC引擎相关的寄存器共有四个：MODE、SEED、SUM和WR_DATA。

■    MODE：CRC模式寄存器。该寄存器选择CRC引擎使用的多项式，同时设置输入数据和CRC求和的位顺序反转和1的补码状态。

■    SEED：CRC种子寄存器。写入该值，则会向SUM寄存器载入CRC种子值。

■    SUM：CRC校验和寄存器。该寄存器保存着最近的CRC总和数据。该寄存器数据只读寄存器。

■    WR_DATA：CRC数据寄存器。该寄存器是一个只写寄存器，包含用于计算CRC总和的数据块。

测试

测试采用的CRC-CCITT多项式。输入数据CRC_TestData，校验和保存在CRC_Sum变量中。通过与CRC工具计算的结果与变量值进行比较，验证测试代码是否正确。以下是测试过程中使用的代码：

1. #include "LPC11E6x.h"
   
2. #include "crc_lpc11e6x.h"
   
3. 
   
4. const uint8_t CRC_TestData8[6] = {0x01,0x02,0x03,0x04,0x05,0x06};
   
5. const uint16_t CRC_TestData16[6] = {0x01,0x02,0x03,0x04,0x05,0x06};
   
6. const uint32_t CRC_TestData32[6] = {0x01,0x02,0x03,0x04,0x05,0x06};
   
7. 
   
8. uint32_t CRC8_Sum;
   
9. uint32_t CRC16_Sum;
   
10. uint32_t CRC32_Sum;
    
11. 
    
12. int main(void)
    
13. {
    
14.         SystemCoreClockUpdate();
    
15.         
    
16.         Chip_CRC_Init();
    
17.         
    
18.         CRC8_Sum = Chip_CRC_CRC8(CRC_TestData8, sizeof(CRC_TestData8));
    
19.         CRC16_Sum = Chip_CRC_CRC16(CRC_TestData16, sizeof(CRC_TestData16));
    
20.         CRC32_Sum = Chip_CRC_CRC32(CRC_TestData32, sizeof(CRC_TestData32));
    
21.         
    
22.         while(1)
    
23.                 ;
    
24. }

复制代码

下图是测试结果。CRC_Sum变量值与CRC工具计算的值都是0xD71C。